特徴

• 空洞や異粒子を含む構造体のCT画像より基盤材と粒子の分離表示が可能。
• 独立した粒子の三次元分離及び色分け3D表示が可能。
• 独立した粒子を色分けした材料の断面カットムービー表示が可能。
  これにより個々の粒子の3D形状が確認できる。
• 表示画像の保存・再生が可能。
• 指定する範囲の内の独立した粒子ごとに体積、表面積、アスペクト比等の分布の計測が可能。
• 512×512×300枚の X線 CT像の3D解析が可能。
• 指定する二点間の距離計測が可能。
• 計測値をCVSファイルに出力可能。
• 指定する範囲内の基盤構造体のFEMシミュレーション用6面体メッシュ出力可能。

主な計測

• 体積
• 球相当径
• 慣性楕円体径 2a,2b,2c
• 深さ方向の3D粒子の密度分布
• 重心座標
• 長軸の向き

• 表面積
• 配位数
• 粒子間距離 他