TRI/3D-PRT・3D粒子計測

 
 本ソフトウエアは、空洞や異粒子を含むナノ粒子、マイクロ粒子
 構造体の透過電顕CT像、X線CT像を解析し材料を構成する
 要素の分布を測定する。
 

主な特徴


     空洞や異粒子を含む構造体のCT画像より基盤材と
         粒子の分離表示が可能。

      独立した粒子の三次元分離及び色分け3D表示が可能。

      独立した粒子を色分けした材料の断面カットムービー
         表示が可能。
         これにより個々の粒子の3D形状が確認できる。

      表示画像の保存・再生が可能。

      指定する範囲の内の独立した粒子ごとに体積、表面積、
         アスペクト比等の分布の計測が可能。

       512×512×300枚のX線CT像の3D解析が可能。

       指定する二点間の距離計測が可能。

       計測値をCVSファイルに出力可能。

       指定する範囲内の基盤構造体のFEMシミュレーション
         用6面体メッシュ出力可能。
主な計測
 
     体積
     球相当径
    慣性楕円体径 2a, 2b, 2c
     深さ方向のVOIDの密度分布
     重心座標
     長軸の向き
     表面積
     配位数
     粒子間距離  他






 



分布

 
  
                    
         3D粒子                         気泡

    体積分布  

 

      
                                            粒子アスペクト比
                        a 楕円体長軸長
                        b 楕円体短軸長

                                                                
                                                                    深さ方向粒子密度分布